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Ultrasonic Wave-based Defect Localization Using Probabilistic Modeling

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https://doi.org/10.1063/1.4716287

DOI

10.1063/1.4716287

其他 期刊:AIP Conference Proceedings 作者:M.D. Todd;E.B. Flynn;P.D. Wilcox;B.W. Drinkwater;A.J. Croxford;S. Kessler 出版日期:2012
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